10 - Microscopia Eletrônica de Transmissão in-situ de aquecimento
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Resumo:
Os microscópios eletrônicos são instrumentos com alta resolução espacial capazes de realizar imagens, difração e espectroscopias de regiões com dimensões micrométricas até subnanométricas. Neste curso iremos abordar aspectos teóricos e práticos da microscopia eletrônica de transmissão (MET) com ênfase na técnica de microscopia in-situ de aquecimento. A microscopia in-situ permite realizar análises durante o aquecimento da amostra e avaliar em tempo real modificações estruturais usando técnicas de difração de elétrons, HRTEM (MET de alta resolução), dentre outras. Ao longo do curso os alunos irão aprender a preparar as amostras, alinhar o feixe de elétrons do MET, obter imagens e difração de elétrons, além de outras técnicas disponíveis no equipamento do LABNANO-CBPF. Realizaremos experimentos in situ de aquecimento e estudaremos a mudança de fase de materiais cristalinos. Algumas aulas serão dedicadas ao uso de softwares de cristalografia como o JEMS, o Digital Micrograph e o KrystalShaper, dentre outros.
Ementa
- Conceitos básicos da microscopia eletrônica
- Canhões de elétrons
- Interação elétron-matéria
- Difração de elétrons
- Preparação de amostras para a microscopia eletrônica
- Aula prática de alinhamento do microscópio
- Aula prática de MET in situ de aquecimento
- Aula prática de difração de elétrons
- Indexação de padrões de difração
Pré-Requisitos:
Sem pré requisitosBibliografia:
- Goldstein, J. I. et al., Scanning Electron Microscopy and X-Ray Analysis, Ed. Plenum, New York, 2003.
- Williams, D. B. e Carter, C. B., Transmission Electron Microscopy, Ed. Plenum, New York, 2009
- Farina M., Uma Introdução à Microscopia Eletrônica de Transmissão, Ed. livraria da física, Rio de Janeiro, 2010